探地雷達(dá)
11.6.1 基本原理
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探地雷達(dá)(Geologic Radar或Earth Pobing Radar)主要研究電磁波在介質(zhì)中傳播的速度,介質(zhì)對(duì)電磁波的吸收,以及電磁波在介質(zhì)交界面的反射。
11.6.1.1 電磁波在介質(zhì)中的傳播速度
探地雷達(dá)測(cè)量的是地下界面的反射波走時(shí) t,為了獲取地下界面的深度 h=tv/2,必須有介質(zhì)的電磁波傳播速度v:
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式中:c為真空中電磁波傳播速度,c=0.3m/ns;ε,為相對(duì)介電常數(shù),是介質(zhì)介電常數(shù)ε與真空的介電常數(shù)ε0的比值。
11.6.1.2 電磁波在介質(zhì)中的吸收特性
吸收系數(shù)α決定了場(chǎng)強(qiáng)在傳播過(guò)程中的衰減率,對(duì)非良導(dǎo)電、非磁性介質(zhì),α的近似值為
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即α與導(dǎo)電率σ成正比,與介質(zhì)導(dǎo)磁率μ和介電常數(shù)ε比值的平方根成正比。
11.6.1.3 反射定律與反射系數(shù)
電磁波(又稱入射波)到達(dá)介質(zhì)的電性分界面時(shí),會(huì)發(fā)生反射,被界面反射而返回的電磁波稱為反射波。反射波與入射波界面處的運(yùn)動(dòng)學(xué)特征(即傳播方向)遵循反射定律,即入射角θi(入射方向與界面法線向的夾角)等于反射角θr(反射方向與界面法線方向的夾角)。
電磁波在到達(dá)界面時(shí),還將發(fā)生能量的再分配。入射波、反射波和折射波三者之間能量關(guān)系,因入射波電磁場(chǎng)相對(duì)界面的方向(極化特性)不同而異。當(dāng)電場(chǎng)平行于界面時(shí),電磁波從介質(zhì)1入射到介質(zhì)2時(shí)的電場(chǎng)反射系數(shù) R12為
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對(duì)于非磁性、非良導(dǎo)電介質(zhì),
。垂直入射時(shí)11.6.2 觀測(cè)方法
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探地雷達(dá)盡管型號(hào)很多,但都可以看成是由接收、發(fā)射兩部分組成。發(fā)射部分通過(guò)天線向地下發(fā)射超高頻寬帶短脈沖電磁波,接收部分通過(guò)天線接收來(lái)自地下介質(zhì)交界面的反射電磁波。目前常用的探地雷達(dá)觀測(cè)方式有剖面法和寬角法兩種。
11.6.2.1 剖面法
剖面法是發(fā)射天線(T)和接收天線(R)以固定間距沿測(cè)線同步移動(dòng)的一種測(cè)量方式。當(dāng)發(fā)射天線與接收天線間距為零,亦即發(fā)射天線與接收天線合二為一時(shí),稱為單天線形式,反之稱為雙天線形式。剖面法的測(cè)量結(jié)果可以用探地雷達(dá)時(shí)間剖面圖像來(lái)表示。該圖像的橫坐標(biāo)記錄了天線在地表的位置;縱坐標(biāo)為反射波雙程走時(shí),表示雷達(dá)脈沖從發(fā)射天線出發(fā)經(jīng)地下界面反射回到接收天線所需的時(shí)間。這種記錄能準(zhǔn)確反映測(cè)線下方地下各發(fā)射界面的形態(tài)。圖11-8為剖面法示意圖及其雷達(dá)圖像剖面。
圖11-8 剖面法示意圖及雷達(dá)圖像
11.6.2.2 寬角法
為了原位測(cè)量地下介質(zhì)的電磁波速度,在探地雷達(dá)工作中還常采用寬角法或共中點(diǎn)法觀測(cè)方式。一個(gè)天線固定在地面某一點(diǎn)上不動(dòng),而另一天線沿測(cè)線移動(dòng),記錄地下各個(gè)不同界面反射波的雙程走時(shí),這種測(cè)量方式稱為寬角法。也可以用兩個(gè)天線,在保持中心點(diǎn)位置不變的情況下,改變兩個(gè)天線之間距離,記錄反射波雙程走時(shí),這種測(cè)量方式稱為共中心點(diǎn)法。當(dāng)?shù)叵陆缑嫫街睍r(shí),這兩種方法結(jié)果一致。這兩種測(cè)量方法的目的是求取地下介質(zhì)的電磁波傳播速度。圖11-9是共中心點(diǎn)觀測(cè)方式示意圖及其雷達(dá)圖像。
深度為h的地下水平界面的反射波雙程走時(shí)t滿足:
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式中:x為發(fā)射天線與接收天線之間的距離;h為反射界面的深度;v為電磁波的傳播速度。當(dāng)?shù)貙与姶挪ㄋ俣葀不變時(shí),t2與x2成線性關(guān)系。用寬角法或共中心點(diǎn)法測(cè)量得到地下界面反射波雙程走時(shí)t,再利用公式(11.9)就可求得地層的電磁波速度。
11.6.3 技術(shù)要求
11.6.3.1 測(cè)線布置原則
探地雷達(dá)的野外工作常常是沿測(cè)線進(jìn)行的,沿測(cè)線采集到的數(shù)據(jù)經(jīng)處理后的成果就是探地雷達(dá)剖面(時(shí)間剖面或深度剖面),它是探地雷達(dá)資料解釋的基本依據(jù)。測(cè)線布置的基本原則如下。
(1)主測(cè)線應(yīng)垂直地下目標(biāo)體走向,輔助測(cè)線平行目標(biāo)體走向,目的是更好地反映目標(biāo)體形態(tài),同時(shí)也可以避免大量異常波的出現(xiàn);
圖11-9 共中心點(diǎn)觀測(cè)方式與雷達(dá)圖像
(2)測(cè)線應(yīng)盡量通過(guò)已有的井位,以利于地層的對(duì)比。
11.6.3.2 分辨率
分辨率是地球物理方法分辨最小異常體的能力。分辨率可分為垂向分辨率與橫向分辨率。類似于地震勘探,通常將探地雷達(dá)剖面中能夠區(qū)分一個(gè)以上反射界面的能力稱為垂向分辨率。
為了研究方便,選用處于均勻介質(zhì)中一個(gè)厚度逐漸變薄的地層模型。電磁波垂直入射時(shí),則有來(lái)自地層頂面、底面的反射波以及層間的多次波。多次波的能量較弱,所得到的雷達(dá)信號(hào)為頂面反射波與底面反射波的合成。依照相應(yīng)地層厚度的時(shí)間關(guān)系所得地層頂面的反射波合成雷達(dá)信號(hào)見圖11-10。由圖可知,可取地層厚度 h=A/4作為垂直分辨率的下限。
探地雷達(dá)在水平方向上所能分辨的最小異常體的尺寸稱為橫向分辨率。雷達(dá)剖面的橫向分辨率通??捎梅颇鶢枎Ъ右哉f(shuō)明。設(shè)地下有一水平反射面,以發(fā)射天線為圓心,以其界面的垂距為半徑,作一圓弧與反射界面相切,此圓弧代表雷達(dá)到達(dá)此界面時(shí)的波前,再以多出1/4及1/2子波長(zhǎng)度的半徑畫弧,在水平面界面的平面上得到兩個(gè)圓。其內(nèi)圓稱為第一菲涅爾帶,兩圓之間的環(huán)形帶稱作第二菲涅爾帶。根據(jù)波的干涉原理,法線反射波與第一菲涅爾帶外緣的反射波的光程差λ/2(雙程光路),反射波之間發(fā)生相長(zhǎng)性干涉,振幅增強(qiáng)。第一帶以外諸帶彼此消長(zhǎng),對(duì)反射的貢獻(xiàn)不大,可以不考慮。設(shè)反射界面的埋深為 h,發(fā)射、接收天線的距離遠(yuǎn)遠(yuǎn)小于h時(shí),第一菲涅爾帶半徑可按下式計(jì)算:
圖11-10 地層厚度對(duì)波形影響示意圖(據(jù)Widess 1973修改)
(a)為反射射線圖解,b為地層厚度;(b)為單個(gè)反射波形,利用地層厚度算出的時(shí)間延遲把得自頂?shù)捉缑娴膯蝹€(gè)反射波形相加,即得到如(c)中的波形;(c)為復(fù)合反射波形,它是地層厚度的函數(shù),T為入射子波主周期,λ2=tv為地層內(nèi)的波長(zhǎng)。等時(shí)線間隔為t/2。標(biāo)有x的線為波谷時(shí)間線,點(diǎn)線為零振幅時(shí)間線,為各復(fù)合子法的中心線;(d)為振幅與視厚度的定義
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式中:λ為雷達(dá)子波的波長(zhǎng);h為異常體的埋藏深度。
圖11-11為處于同一埋深、間距不同的兩個(gè)金屬管道的探地雷達(dá)圖像。該圖像在水槽中獲得,實(shí)驗(yàn)使用鐵管φ5cm,鋼管φ3cm。測(cè)量時(shí)使用中心頻率為100MHz天線,其在水中的子波波長(zhǎng)λ=0.33m。從圖中可以看出一些內(nèi)容:①處在深度為1.06m的φ3cm鐵管仍可以很清晰地為探地雷達(dá)所分辨,由于其管徑約為0.1rf,說(shuō)明探地雷達(dá)對(duì)單個(gè)異常體的橫向分辨率要遠(yuǎn)小于第一菲涅爾帶的半徑。②圖11-10(a)兩管間距0.5m大于第一菲涅爾帶半徑,由雷達(dá)圖像可以準(zhǔn)確把兩管水平位置確定出來(lái);(b)兩管間距0.4m小于第一菲涅爾帶半徑rf=0.42m,已很難用雷達(dá)圖像確定兩管精確位置。這表明區(qū)分兩個(gè)水平相鄰的異常體,其最小橫向距離要大于第一菲涅爾帶半徑。
11.6.3.3 探測(cè)距離與探距方程
探地雷達(dá)能探測(cè)最深目標(biāo)體的距離稱為探地雷達(dá)的深測(cè)距離。當(dāng)雷達(dá)系統(tǒng)選定后,系統(tǒng)的增益 Q。就確定。Qs為最小可探測(cè)的信號(hào)功率 Wmin與輸入到發(fā)射天線的功率Wt之比,即:
圖11-11 兩個(gè)同深金屬管的地質(zhì)雷達(dá)圖像
(a)鋼管(右)直徑3cm,頂深1.06m;鐵皮管(左)直徑5cm,頂深1.04m,管中心距0.5m;(b)鋼管(右)頂深0.52m;鐵皮管(左)頂深0.5m,管中心距0.4m;(c)鋼管(右)頂深1.04m;鐵皮管(左)頂深1.06m,管中心距0.4m
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探地雷達(dá)從發(fā)射到接收的過(guò)程中能量會(huì)逐漸損耗。雷達(dá)系統(tǒng)從發(fā)射到接收過(guò)程中的功率損耗 Q可由雷達(dá)探距方程來(lái)描述。
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式中:ηt、ηr分別為發(fā)射天線與接收天線的效率;Gt、Gr分別為在入射方向與接收方向上天線的方向性增益;g為目的體向接收天線方向的后向散射增益;σ為目的體的散射截面;α為介質(zhì)的吸收系數(shù);r為天線到目的體的距離;λ為雷達(dá)子波在介質(zhì)中的波長(zhǎng)。
滿足Qs+Q>0的最大距離r,稱為探地雷達(dá)的深測(cè)距離,亦即處在距離 r范圍內(nèi)的目的體的反射信號(hào)可以為雷達(dá)系統(tǒng)所探測(cè)。
11.6.3.4 探地雷達(dá)方法有效性評(píng)價(jià)
每接受一個(gè)探地雷達(dá)測(cè)量任務(wù),都需要對(duì)探地雷達(dá)解決地質(zhì)問(wèn)題的有效性進(jìn)行評(píng)價(jià),以確定探地雷達(dá)測(cè)量能否取得預(yù)期效果。
(1)目標(biāo)體深度是一個(gè)非常重要的問(wèn)題。如果目標(biāo)體深度超出雷達(dá)系統(tǒng)探測(cè)距離,則探地雷達(dá)方法就要被排除。雷達(dá)系統(tǒng)探測(cè)距離可根據(jù)雷達(dá)探距方程(11.12式)進(jìn)行計(jì)算。
(2)目標(biāo)體幾何形態(tài)(尺寸與取向)必須盡可能了解清楚,包括高度、長(zhǎng)度與寬度。目標(biāo)體的尺寸決定了雷達(dá)系統(tǒng)可能具有的分辨率,關(guān)系到天線中心頻率的選用。如果目標(biāo)體為非等軸狀,則要搞清目標(biāo)體走向、傾向與傾角,這些將關(guān)系到測(cè)網(wǎng)的布置。
(3)目標(biāo)體的電性(介電常數(shù)與導(dǎo)電率)必須搞清。雷達(dá)方法成功與否取決于是否有足夠的反射或散射能量為系統(tǒng)識(shí)別。當(dāng)圍巖與目標(biāo)體相對(duì)介電常數(shù)分別為εh與εT時(shí),目標(biāo)體功率反射系數(shù)的估算式為:
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一般說(shuō)目標(biāo)體的功率反射系數(shù)應(yīng)大于0.01。
(4)測(cè)區(qū)的工作環(huán)境必須搞清。當(dāng)測(cè)區(qū)內(nèi)存在大范圍金屬構(gòu)件并成為無(wú)線電射頻源時(shí),將對(duì)測(cè)量構(gòu)成嚴(yán)重干擾,在進(jìn)行資料解釋時(shí)必須加以排除。
11.6.4 信號(hào)處理
11.6.4.1 濾波技術(shù)
探地雷達(dá)測(cè)量中,為了保持更多的反射波特征,多采用寬頻帶進(jìn)行記錄,但在記錄各種有效波的同時(shí),也記錄了各種干擾波。一維濾波技術(shù)就是利用頻譜特征的不同來(lái)壓制干擾波,以突出有效波,它包括一維頻率域?yàn)V波和一維時(shí)間域?yàn)V波。
探地雷達(dá)數(shù)據(jù)中,有時(shí)有效波和干擾波的頻譜成分十分接近甚至重合,這時(shí)無(wú)法用頻率濾波壓制干擾,需要用有效波和干擾波在空間位置上的差異進(jìn)行濾波。這種濾波要同時(shí)對(duì)若干道進(jìn)行計(jì)算才能得到輸出,因此是一種二維濾波。
二維濾波原理是建立在二維傅里葉變換基礎(chǔ)上的。沿地面觀測(cè)頻率波數(shù)譜 G(ω,kx)是頻譜的時(shí)空函數(shù)。
地質(zhì)災(zāi)害勘查地球物理技術(shù)手冊(cè)
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上式說(shuō)明,g(t,x)是由無(wú)數(shù)圓頻率為ω=2πf,波數(shù)為kx的平面簡(jiǎn)諧波所組成,它們沿測(cè)線以視速度v*傳播。
如果有效波和干擾波的平面簡(jiǎn)諧波成分有差異,有效波的平面諧波成分與干擾波的平面諧波成分以不同的視速度傳播,則可用二維視速度濾波將它們分開,達(dá)到壓制干擾、提高信噪比的目的。
11.6.4.2 二維偏移歸位處理方法
探地雷達(dá)測(cè)量的是來(lái)自地下介質(zhì)交界面的反射波。偏離測(cè)點(diǎn)的地下介質(zhì)交界面的反射點(diǎn)只要其法平面通過(guò)測(cè)點(diǎn),都可以被記錄下來(lái)。在資料處理中需要把雷達(dá)記錄中的每個(gè)反射點(diǎn)移到其本來(lái)位置,這種處理方法被稱為偏移歸位處理。經(jīng)過(guò)偏移處理的雷達(dá)剖面可反映地下介質(zhì)的真實(shí)位置。常用的偏移歸位方法有繞射偏移、波動(dòng)方程偏移和克?;舴蚍e分偏移,有關(guān)偏移方法可參考相關(guān)地球物理信號(hào)處理書籍。
11.6.5 數(shù)據(jù)處理方法
數(shù)據(jù)處理的目的是對(duì)原始雷達(dá)記錄進(jìn)行初步加工處理,使實(shí)測(cè)的雷達(dá)資料更便于計(jì)算機(jī)處理。常用的處理方法有不正常道處理與多次疊加處理。
當(dāng)天線與地面接觸不良,或者由于發(fā)射電路工作不正常產(chǎn)生廢記錄道,在預(yù)處理時(shí)必須廢除該道記錄,并用相鄰道的均值補(bǔ)全。
在地下介質(zhì)對(duì)電磁波吸收較強(qiáng)的測(cè)區(qū),為了增加來(lái)自地下深處的信息,加大探地雷達(dá)的探測(cè)深度,常常使用多次疊加技術(shù)。目前適用于探地雷達(dá)多次疊加處理的測(cè)量方法有兩種:一種是多天線雷達(dá)測(cè)量系統(tǒng),應(yīng)用一個(gè)發(fā)射天線,多個(gè)接收天線同時(shí)進(jìn)行測(cè)量;另一種是多次覆蓋測(cè)量,使用幾種不同天線距的發(fā)射—接收天線沿測(cè)線進(jìn)行重復(fù)測(cè)量。多次覆蓋測(cè)量在同一測(cè)點(diǎn)上有幾組共反射點(diǎn)的雷達(dá)數(shù)據(jù),經(jīng)天線距校正后,進(jìn)行疊加使得來(lái)自地下的反射波得到加強(qiáng),而干擾波信號(hào)大大減弱,從而增加了探測(cè)深度。
11.6.6 成果表達(dá)形式
(1)探地雷達(dá)實(shí)際材料圖集中顯示雷達(dá)測(cè)網(wǎng)布置;
(2)雷達(dá)剖面成果圖顯示雷達(dá)測(cè)線下地層與構(gòu)造形態(tài);
(3)平面等值線圖表達(dá)測(cè)線范圍內(nèi)某些目的層分布特征,其中包括基巖高程圖、目的層等深圖等;
(4)雷達(dá)推測(cè)成果圖,包括推斷構(gòu)造分布、滑體范圍成果圖,巖溶平面分布圖等;
(5)三維雷達(dá)成果,包括垂直切片圖、水平切片圖、三維體顯示以及格柵顯示圖。
11.6.7 資料解釋原則
探地雷達(dá)資料的地質(zhì)解釋是探地雷達(dá)測(cè)量的目的,這項(xiàng)工作通常是在數(shù)據(jù)處理后所得到的探地雷達(dá)圖像剖面中,根據(jù)反射波組的波形與強(qiáng)度特征,通過(guò)同相軸的追蹤,確定反射波組的地質(zhì)含義,構(gòu)筑地質(zhì)—地球物理解釋剖面并依據(jù)剖面解釋獲得整個(gè)測(cè)區(qū)最終成果圖,為地質(zhì)災(zāi)害的治理方案提供依據(jù)。
探地雷達(dá)資料反映的是地下介質(zhì)的電性分布,要把地下介質(zhì)的電性分布轉(zhuǎn)化為地質(zhì)情況,必須要把地質(zhì)、鉆探、探地雷達(dá)這三方面的資料結(jié)合起來(lái),建立測(cè)區(qū)的地質(zhì)—地球物理模型,并以此得到地下地質(zhì)模式。
11.6.7.1 雷達(dá)剖面與地質(zhì)剖面的關(guān)系
雷達(dá)剖面不是地質(zhì)剖面的簡(jiǎn)單反映,兩者既有內(nèi)在聯(lián)系,又有區(qū)別。
(1)雷達(dá)反射界面與地層界面的關(guān)系
雷達(dá)反射界面是電性界面,而地質(zhì)剖面反映的是巖層界面。地層劃分的依據(jù)是巖性、生物化石種類及沉積時(shí)間等。地質(zhì)剖面中由于沉積間斷或巖性差異而形成的面,如斷層面、侵蝕不整合面、流體分界面及不同巖性的分界面,均可成為反射面,這時(shí)反射面與地質(zhì)分界面是一致的,即大多數(shù)雷達(dá)反射面大體上反映地層界面的形態(tài)。然而在許多情況下,反射面與鉆井或測(cè)井所得到的地質(zhì)剖面的地層分界面并不一致。主要體現(xiàn)在以下幾種情況:
首先是有些埋藏深的古老地層,在長(zhǎng)期的構(gòu)造運(yùn)動(dòng)和壓力的作用下,相鄰地層可能有相近的波阻抗,因而地質(zhì)上的層面不足以構(gòu)成反射面。
其次,同一巖性的地層,其中既無(wú)層面又無(wú)巖性分界面,但由于巖層中所含流體成分不同,而構(gòu)成物性界面,如飽水帶與飽氣帶界面,因而雷達(dá)反射界面有時(shí)也并非是地質(zhì)界面。
再次,雷達(dá)反射面是以同相軸表達(dá)的,當(dāng)多個(gè)薄層組成多個(gè)地質(zhì)界面時(shí),在雷達(dá)剖面中由于雷達(dá)子波有一定的延續(xù)度使多個(gè)薄層界面的反射波疊加成復(fù)合波形,從而產(chǎn)生反射波界面與地層界面的不一致。
(2)雷達(dá)反射界面的幾何形態(tài)與地質(zhì)構(gòu)造關(guān)系
雷達(dá)反射波剖面圖像一般可以定性反映地質(zhì)構(gòu)造形態(tài),尤其當(dāng)構(gòu)造形態(tài)比較簡(jiǎn)單時(shí),反射波同相軸的幾何形態(tài)所反映的地質(zhì)構(gòu)造是直觀的、明顯的。但由于分辨率限制及其噪聲,雷達(dá)剖面反映構(gòu)造細(xì)節(jié)有限,使兩者之間存在不少差別。
首先,雷達(dá)剖面通常是時(shí)間剖面而地質(zhì)剖面是深度剖面。雷達(dá)時(shí)間剖面要經(jīng)過(guò)時(shí)深轉(zhuǎn)換后才能成為深度剖面。時(shí)深轉(zhuǎn)換后的雷達(dá)深度剖面與地質(zhì)剖面的符合程度,主要取決于速度資料的可靠程度。速度不準(zhǔn),會(huì)導(dǎo)致雷達(dá)深度剖面上的反射層與地質(zhì)剖面上的真實(shí)地層不符,甚至?xí)饦?gòu)造畸變。
其次,由于雷達(dá)波的垂向分辨率的限制,致使在薄層情形下,雷達(dá)反射層與地質(zhì)層位往往不是一一對(duì)應(yīng)的,有可能一個(gè)地質(zhì)界面對(duì)應(yīng)多個(gè)雷達(dá)相位,多個(gè)薄的地層界面對(duì)應(yīng)多個(gè)雷達(dá)相位。
再次,只要觀測(cè)點(diǎn)處在界面的法線上,就會(huì)接收到旁側(cè)界面的反射波,使雷達(dá)剖面上所反映的地質(zhì)構(gòu)造在空間上發(fā)生了偏移。尤其當(dāng)?shù)刭|(zhì)構(gòu)造比較復(fù)雜時(shí),雷達(dá)剖面上反射波同相軸的幾何圖形并不能直接反映復(fù)雜構(gòu)造的真實(shí)形態(tài),甚至面目全非,給雷達(dá)資料帶來(lái)很多假象,使得雷達(dá)剖面解釋存在多解性。
11.6.7.2 雷達(dá)時(shí)間剖面對(duì)比
時(shí)間剖面的對(duì)比就是在雷達(dá)反射波時(shí)間剖面上,根據(jù)反射波的運(yùn)動(dòng)學(xué)和動(dòng)力學(xué)的特征來(lái)識(shí)別和追蹤同一反射界面反射波的過(guò)程。它實(shí)際上包括兩方面的工作,一個(gè)工作是在某條剖面上根據(jù)相鄰接收點(diǎn)反射波的某些特點(diǎn)來(lái)對(duì)比同一界面反射波,一般叫波的對(duì)比;另一個(gè)工作是在相鄰多條雷達(dá)剖面上追蹤同一界面的反射波,稱為時(shí)間剖面的對(duì)比。在時(shí)間剖面上對(duì)比反射波,嚴(yán)格地說(shuō)應(yīng)該對(duì)比反射波的初至。但是,由于反射波是在各種干擾背景下記錄下來(lái)的,當(dāng)子波為最小相位時(shí),其初至很難辨認(rèn)。為了便于對(duì)比,總是利用剖面上比較明顯的波形相位對(duì)比。一個(gè)反射界面在雷達(dá)剖面上往往包含有幾個(gè)強(qiáng)度不等的同相軸,選其中振幅最強(qiáng)、連續(xù)性最好的某個(gè)同軸相進(jìn)行追蹤,這叫做強(qiáng)相位對(duì)比,有時(shí)反射層無(wú)明顯的強(qiáng)相位,可對(duì)比反射波的全部或多個(gè)相位,這稱為多相位對(duì)比。另外還可以利用波組和波系進(jìn)行對(duì)比。波組是指由三四個(gè)數(shù)目不等的同相軸組合在一起形成的,或指比較靠近的若干界面所產(chǎn)生的反射波組合。由兩個(gè)或兩個(gè)以上波組所組成的反射波系列,稱為波系。利用這些組合關(guān)系進(jìn)行波的對(duì)比,可以更全面考察反射層之間的關(guān)系。因?yàn)閺牡刭|(zhì)觀點(diǎn)來(lái)說(shuō),相鄰地層界面的厚度間隔、幾何形態(tài)是有一定聯(lián)系的,沿橫向變化是漸變的,反映在時(shí)間剖面上反射波在時(shí)間間隔、波形特征等方面也是有一定規(guī)律的。有時(shí)在剖面的某段長(zhǎng)度內(nèi),因某種原因(如巖性橫向變化)有的同相軸質(zhì)量較差(振幅弱、連續(xù)性差),我們可以根據(jù)反射波相互之間總的趨勢(shì)的極值點(diǎn)(波峰或波谷)依次對(duì)比同相位。所以波的對(duì)比又稱為波的相位對(duì)比或稱同相軸對(duì)比。
11.6.8 儀器設(shè)備
探地雷達(dá)儀器設(shè)備見表11-6。
表11-6 探地雷達(dá)一覽表
參考文獻(xiàn)
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地質(zhì)災(zāi)害勘查資質(zhì)辦理需要哪些條件?
地質(zhì)災(zāi)害勘查資質(zhì)
很多工程在施工之前,都需要經(jīng)過(guò)勘查,地質(zhì)災(zāi)害治理工程也不例外,不過(guò),企業(yè)要想承接這樣的項(xiàng)目,就需要有 地災(zāi)資質(zhì) 中的地質(zhì)災(zāi)害勘查資質(zhì)。
不過(guò),說(shuō)是這么說(shuō),一個(gè)資質(zhì),想要辦理下來(lái)可不是那么容易的,企業(yè)的實(shí)力不夠,比如說(shuō)人員不足,設(shè)備不足,或者操作方式不對(duì),那都可能無(wú)法將地質(zhì)災(zāi)害勘查資質(zhì)成功辦理下來(lái),接下來(lái),我們先來(lái)了解一下地質(zhì)災(zāi)害勘查資質(zhì)的相關(guān)知識(shí)吧。
地質(zhì)災(zāi)害治理工程勘查單位的各等級(jí)資質(zhì)條件如下:
1單位技術(shù)人員總數(shù)不少于二十名,其中水文地質(zhì)、工程地質(zhì)、環(huán)境地質(zhì)專業(yè)技術(shù)人員不少于十名且具備高級(jí)職稱的人員不少于三名;
2具有與承擔(dān)小型地質(zhì)災(zāi)害勘查項(xiàng)目相適應(yīng)的鉆探、物探、測(cè)量、測(cè)試、計(jì)算機(jī)等設(shè)備。
還應(yīng)當(dāng)同時(shí)具備以下條件:
(一)有獨(dú)立的法人資格,其中申請(qǐng)施工資質(zhì)的單位必須具備企業(yè)法人資格;
(二)有健全的安全和質(zhì)量管理監(jiān)控體系,近五年內(nèi)未發(fā)生過(guò)重大安全、質(zhì)量事故;
(三)技術(shù)人員中外聘人員不超過(guò)百分之十。
審批機(jī)關(guān)受理資質(zhì)申請(qǐng)材料后,應(yīng)當(dāng)組織專家進(jìn)行評(píng)審。專家評(píng)審所需時(shí)間不計(jì)算在審批時(shí)限內(nèi)。
對(duì)經(jīng)過(guò)評(píng)審后擬批準(zhǔn)的資質(zhì)單位,審批機(jī)關(guān)應(yīng)當(dāng)在媒體上進(jìn)行公示。公示時(shí)間不得少于七日。
公示期滿,對(duì)公示無(wú)異議的,審批機(jī)關(guān)應(yīng)當(dāng)予以批準(zhǔn),并頒發(fā)資質(zhì)證書;對(duì)公示有異議的,審批機(jī)關(guān)應(yīng)當(dāng)對(duì)其申請(qǐng)材料予以復(fù)核。
審批機(jī)關(guān)應(yīng)當(dāng)將審批結(jié)果在媒體上予以公告。
省、自治區(qū)、直轄市自然資源主管部門審批的乙級(jí)和丙級(jí)資質(zhì),應(yīng)當(dāng)在批準(zhǔn)后的六十日內(nèi)報(bào)自然資源部備案。
探地雷達(dá)的探地雷達(dá)技術(shù)參數(shù)
1)雷達(dá)系統(tǒng)控制器計(jì)算機(jī)(工業(yè)一體式專用電腦,強(qiáng)抗震性能設(shè)計(jì)):
處理器:Intel Celeron 400MHz或更好配置
雷達(dá)界面卡:專用
內(nèi)存:≥512MB
硬盤(編程和存儲(chǔ)):≥4G
顯示器: 10.4英寸超高亮度透反射日光下可讀彩色液晶顯示器
電源:10.5~18 VDC@ 45W(室內(nèi)可交流電直接供電,室外可由充電電池提供電源)
基于Windows XP操作系統(tǒng)的全屏幕菜單系統(tǒng),內(nèi)置雷達(dá)數(shù)據(jù)采集和處理控制軟件
觸摸屏界面,可外接使用鍵盤和鼠標(biāo)
提供以下輸入/輸出端口:雷達(dá)界面接口,兩個(gè)USB接口,電源接口
2)天線控制單元:
總體動(dòng)態(tài)范圍:130dB
接收器動(dòng)態(tài)范圍:90dB
最小時(shí)間范圍:6.3ns
最大時(shí)間范圍:820ns
脈沖重復(fù)時(shí)間:1μs
有效帶寬:3GHz
3)可與100MHz、250 MHz、500 MHz、1000 MHz和2000 MHz屏蔽天線配合使用,以滿足不同的探測(cè)深度要求。